一种半导体测试用编带机的元件吸附装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种半导体测试用编带机的元件吸附装置,包括连接部,所述连接部的顶壁安装有吸附部,所述吸附部包括导管,所述导管的底部具有褶皱,且所述导管的具有间隙,所述导管的内壁上开设有与间隙连通的通孔,所述吸附部的顶部且位于吸附部的内侧安装有广口吸附件,所述广口吸附件的内侧安装有吸附嘴,所述吸附嘴的底部连接有管道,所述管道位于连接部的内侧,所述管道靠近底端的外侧安装有固定机构;通过设置安装了吸附部和广口吸附件,在吸附较小SMD元件时,可通过广口吸附件进行固定,且吸附固定SMD元件时,吸附部可收缩,进一步减少吸附部内侧的空间,便于空气排出,从而降低压强,增加吸附的稳定性。

基本信息
专利标题 :
一种半导体测试用编带机的元件吸附装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020851544.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-20
授权号 :
CN212275882U
授权日 :
2021-01-01
发明人 :
彭勇
申请人 :
合肥市华达半导体有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区望江西路860号合芜蚌实验区科技创新公共服务和应用技术研发中心B栋六楼
代理机构 :
合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘跃
优先权 :
CN202020851544.X
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R31/01  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-01-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332