一种用于磁芯参数测量的环形线圈结构
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于磁芯参数测量的环形线圈结构，包括环形磁芯与绕组，其绕组包括围绕磁环径向截面绕制的第一部分以及沿着磁环圆周方向返绕一圈的第二部分。本实用新型提出的环形线圈绕制方式能够消除外部磁场以及环形电感线圈磁场自身泄露对空心电感或磁芯电感参数测量的影响，从而保证环形磁芯样品测量的准确性与可靠性。同时本实用新型还提供了另一种技术方案能够消除由于匝数增加而导致的寄生电容的增加。
基本信息
专利标题 ：
一种用于磁芯参数测量的环形线圈结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020870485.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-22
授权号 ：
CN213069016U
授权日 ：
2021-04-27
发明人 ：
汪晶慧陈为
申请人 ：
福州大学
申请人地址 ：
福建省福州市闽侯县福州大学城乌龙江北大道2号福州大学
代理机构 ：
福州元创专利商标代理有限公司
代理人 ：
钱莉
优先权 ：
CN202020870485.0
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26 G01R31/72 H01F27/28 H01F27/30 H01F27/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2021-04-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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