一种用于磁参数测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于磁参数测量装置,涉及空间磁通量测量技术领域,包括底座、角度定位盘、磁通立柱、磁通固定支架及调节支撑台;底座呈长方形,底座上连接有可沿底座宽度方向移动的磁通立柱,磁通立柱上连接有可沿磁通立柱高度方向移动的磁通固定支架,磁通固定支架上设有用于安装磁通量探头的探头安装孔;底座上还连接有高度可调的调节支撑台,调节支撑台上安装有可以沿底座宽度方向移动的电磁发射装置;底座上还垂直连接有角度定位盘,角度定位盘位于磁通立柱和调节支撑台之间,角度定位盘上设有多个用于定角度和分度的定位孔。其优点在于:该装置实现电磁发射装置在空间精确的测量,便于数据的筛选和分析。
基本信息
专利标题 :
一种用于磁参数测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123339643.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
CN216748039U
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
刘玉元康建伟
申请人 :
巨翊医疗科技(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区嘉陵江路188号1号楼302室
代理机构 :
上海乐泓专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王瑞
优先权 :
CN202123339643.3
主分类号 :
G01R33/02
IPC分类号 :
G01R33/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2022-06-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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