本实用新型提供了一种测试夹具及测试设备，测试夹具包括探针座、补偿结构以及电连接件，探针座上设有容纳槽以及与容纳槽连通且用于供电子元件的探针插入的探针插口，补偿结构用于补偿探针的长度，补偿结构的一端电性连接于电连接件上，补偿结构的远离电连接件的一端伸入容纳槽内且用于与电子元件的探针连接，电连接件用于与测试仪连接。将本实用新型的测试夹具应用于滤波器的插入损耗测试时，补偿结构能够补偿探针的长度，因此可以避免滤波器由于剪切插针而导致插入损耗曲线发生偏置的情况，从而可以准确测量滤波器的插入损耗，以便于将滤波器的插入损耗测试结果与初始值要求比对并判定滤波器的稳定性。