一种测试电路板及测试系统
授权
摘要
本实用新型提供一种测试电路板，其包括：第一电路板，包括至少一个第一电气端口以外接其他组件，及至少一个IC承载区以承载至少一个芯片并与所述至少一个芯片电气连接；以及第二电路板，包括至少一个第二电气端口及多个外接测试引脚；其中，所述至少一个第二电气端口系用以与所述至少一个第一电气端口电气连接，且所述多个外接测试引脚用以提供至少一所述芯片的测试信号接点。
基本信息
专利标题 ：
一种测试电路板及测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021000027.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-04
授权号 ：
CN212723204U
授权日 ：
2021-03-16
发明人 ：
宫仁敏谭仲齐
申请人 ：
北京集创北方科技股份有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区经济技术开发区景园北街2号56幢
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021000027.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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