一种电器老化试验箱
授权
摘要
本实用新型公开了一种电器老化试验箱，包括试验箱体、设置在试验箱体外部的加热装置、制冷装置和散热装置；本设备通过将活动托盘作为试验平台，滑动设在试验箱体的中部，便于待测电器组件的搭建；通过在试验箱体内设有循环风扇，循环风扇启动后，利用扇叶的转动，配合活动托盘上开设的开孔，使试验箱体内部的空气产生强制对流，使得试验箱体内部每一点温度相等；通过设置半导体制冷片对箱体内进行吸热降温，以及单片机进行控制散热效果，便于散热，使得装置内部热量及时排出，避免试验环境的超负荷的进行，保障电器元件损坏。
基本信息
专利标题 ：
一种电器老化试验箱
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021002542.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-28
授权号 ：
CN212723128U
授权日 ：
2021-03-16
发明人 ：
牟鹏涛张克蒋硕
申请人 ：
山东省医疗器械产品质量检验中心
申请人地址 ：
山东省济南市高新区天泺路99号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021002542.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G05D23/20 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-03-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
