本实用新型公开一种测试观瞄装备延时指标的装置，属于光电测试技术领域。所述测试观瞄装备延时指标的装置包括底座、毫秒表、平面反射镜、组合棱镜和相机，其中，底座用于固定被测装备；毫秒表放置在底座的一侧；平面反射镜活动设置在底座上；组合棱镜设置在被测装备的目镜的前端；相机放置在底座的一侧，且与组合棱镜以及所述被测装备的目镜位于一条直线上。本实用新型提供的一种测试观瞄装备延时指标的装置，测试速度快，被测装备不需要专门设计测试接口，不需拆卸整机，测试数据在同一张图片中，测试直观，利于处理和存储；通用性强，根据不同被测装备的定位和安装，只需改进所述支架，能够测试红外装备、低照度CMOS装备和头显装备等。