一种热电材料的XRD原位测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种热电材料的XRD原位测试装置,包括为待测样品提供温差条件的温差池、固定所述温差池的中空载台、设置于所述载台一侧的接头,所述接头用于连接外部控制器;所述温差池主要由池体、固定于所述池体上的冷端和热端组成,所述冷端与所述热端通过隔热材料隔离开来,并分别配有用于测量其温度的温度传感器,所述冷端通过制冷元件降温,所述热端通过加热元件升温。本实用新型能够在测试热电材料电学性能的同时,表征在不同温差下的晶格变化和物相变化情况,有助于分析热电材料工作时的晶格结构和物相变化情况,更好地理解热电材料的物相结构和热电转换效率之间的关系,对开发新的具有优良性能的热电材料具有指导意义。
基本信息
专利标题 :
一种热电材料的XRD原位测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021005254.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-04
授权号 :
CN212180661U
授权日 :
2020-12-18
发明人 :
刘明利张永东唐丁
申请人 :
合肥原位科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区丹霞路以北,翡翠路西合肥大学城商业中心商办楼5F创客空间602室
代理机构 :
合肥律众知识产权代理有限公司
代理人 :
赵娟
优先权 :
CN202021005254.X
主分类号 :
G01N23/207
IPC分类号 :
G01N23/207 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射,例如,利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2020-12-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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