热阻测量装置
授权
摘要
本实用新型提供一种热阻测量装置，属于光电技术领域。热阻测量装置，用于测量激光模组的热阻，包括：温度控制器、光功率计以及波长测量仪；温度控制器的工作面用于设置激光模组并控制其温度，激光模组具有出光方向分别朝向光功率计和波长测量仪的第一状态和第二状态，光功率计用于测量激光模组的出光功率，波长测量仪用于测量激光模组的出光波长。本实用新型的目的在于提供一种热阻测量装置，能够简便快速的对激光模组的热阻进行测量，以用于评价激光模组的散热性能。
基本信息
专利标题 ：
热阻测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021027530.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-05
授权号 ：
CN212340427U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
陈展耀戴书麟刘风雷
申请人 ：
东莞埃科思科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市松山湖园区兴业路4号8栋
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
崔熠
优先权 ：
CN202021027530.2
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J9/00 G01M11/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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