具有普通模式和精细模式的三维扫描仪
授权
摘要
本实用新型公开一种具有普通模式和精细模式的三维扫描仪,包括:机架、普通扫描组件及精细扫描组件,普通扫描组件及精细扫描组件皆同向插设于机架内,且普通扫描组件及精细扫描组件成中心对称分布于机架两侧,本实用新型在一个机架上同时设置了普通扫描组件、补充扫描组件及精细扫描组件,以普通扫描组件用于普通扫描模式的快速扫描,以配备的精细扫描组件用于精细扫描模式,这样能同时满足普通扫描模式和精细扫描模式的任意切换,而且保证了扫描精度,同时提高了工作效率。
基本信息
专利标题 :
具有普通模式和精细模式的三维扫描仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021036846.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-08
授权号 :
CN212539085U
授权日 :
2021-02-12
发明人 :
朱中尉龚玉
申请人 :
武汉中观自动化科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号(凤凰园中路交汇处)光谷动力节能环保产业园内6号楼5层15号
代理机构 :
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
严超
优先权 :
CN202021036846.8
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2021-02-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN212539085U.PDF
PDF下载