用于三坐标测量设备的检测模块和三坐标测量设备
授权
摘要
本实用新型公开一种用于三坐标测量设备的检测模块,所公开的检测模块包括第一基准面(101)、第二基准面(102)和第三基准面(103),其中,所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)中的至少一者设置有检测结构(107)。上述用于三坐标测量设备的检测模块能解决目前的三坐标测量设备出现数据异常时难以快速分析出异常原因的问题。本实用新型公开一种三坐标测量设备,所公开的三坐标测量设备包括移动臂(400)、测量平台(700)和根据上文所述的用于三坐标测量设备的检测模块,所述移动臂(400)的一端安装有测针(500),所述检测模块能够固定安装于所述测量平台(700)。
基本信息
专利标题 :
用于三坐标测量设备的检测模块和三坐标测量设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021044832.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-09
授权号 :
CN212007120U
授权日 :
2020-11-24
发明人 :
冯摇
申请人 :
捷普电子(新加坡)公司
申请人地址 :
新加坡市
代理机构 :
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 :
南霆
优先权 :
CN202021044832.0
主分类号 :
G01B21/00
IPC分类号 :
G01B21/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2020-11-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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