利用直线光源测量平整度的仪器
授权
摘要
本实用新型公开了一种利用直线光源测量平整度的仪器，包括发射装置，还包括接收装置，发射装置包括底座和位于底座上方的发射部，发射部与底座轴承连接，发射部的外表面嵌入平行于水平面发光的直线光源；接收装置包括与发射装置的底座高度相同的底座，以及底座上方的高差测量部，高差测量部表面设有多条均布的刻度线，以水平面为基准，零刻度线与直线光源等高。本实用新型的利用直线光源测量平整度的仪器结构简单，能够通过发射装置与激光接收装置的配合精确地判断平面任意两点间是否水平并迅速直观的测量出平面上不同位置处的准确高差值。
基本信息
专利标题 ：
利用直线光源测量平整度的仪器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021045096.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-09
授权号 ：
CN211954059U
授权日 ：
2020-11-17
发明人 ：
胡毅肖立翠邓增文
申请人 ：
中国二十二冶集团有限公司
申请人地址 ：
河北省唐山市丰润区幸福道16号
代理机构 ：
唐山永和专利商标事务所
代理人 ：
张云和
优先权 ：
CN202021045096.0
主分类号 ：
G01B11/30
IPC分类号 ：
G01B11/30 G01B5/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/30
用于计量表面的粗糙度和不规则性
法律状态
2020-11-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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