晶片平整度测量仪
授权
摘要
本实用新型属于蓝宝石加工技术领域，具体的，涉及一种晶片平整度测量仪，包括伸缩式量表、支撑板和支架，所述支架至少为三个，所述支架贯穿支撑板与支撑板可拆卸连接，支架与支撑板的下侧形成有晶片放置区；所述晶片放置区内形成有安装孔，所述伸缩式量表贯穿所述安装孔并与支撑板可拆卸连接。本实用新型提出了一种晶片平整度测量仪，受环境因素影响较小，测量更加准确快捷，节省劳动力，提高生产效率。
基本信息
专利标题 ：
晶片平整度测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920740468.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-22
授权号 ：
CN209764061U
授权日 ：
2019-12-10
发明人 ：
郑东张强
申请人 ：
青岛鑫嘉星电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
山东省青岛市城阳区高新区河东路383号
代理机构 ：
青岛发思特专利商标代理有限公司
代理人 ：
巩同海
优先权 ：
CN201920740468.2
主分类号 ：
G01B21/30
IPC分类号 ：
G01B21/30
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/26
••用于检测轮子的准直度
G01B21/30
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2019-12-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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