一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统，包括水平支架，水平支架上设置有水平轨道，水平轨道上安装有可沿其水平移动的水平托盘；水平托盘上安装有一维方位转台，一维方位转台上设置有竖直支架；竖直支架上安装有升降机构，升降机构包括升降带，升降带上安装有用于安装微波信号接收装置的安装台；本实用新型通过水平托盘可带动微波信号接收装置在同一水平面上横向移动，通过一维方位转台可实现微波信号接收装置的方位旋转，通过升降机构可以实现微波信号接收装置高度的调节，进而可以实现微波信号接收装置在微波暗室空间内不同位置处接收微波信号，提升微波暗室的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021067194.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-11
授权号 ：
CN212459871U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
伍捍东刘迎喜王英英尹国选潘云飞
申请人 ：
西安恒达微波技术开发有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市航天基地飞天路485号
代理机构 ：
西安维赛恩专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李明全
优先权 ：
CN202021067194.4
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10 G01R29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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