定位测量装置、定位调节装置以及激光系统
授权
摘要

本申请实施例提供一种定位测量装置、定位调节装置以及激光系统。所述定位测量装置包括:第1部件,其具有供入射的激光通过的第1开口,并使所述入射的激光的光束直径减小并且输出所述激光;第1光学元件,其对所述激光的至少一部分进行反射;第2部件,其被配置在所述第1部件与所述第1光学元件之间,具有供所述激光通过的第2开口;第2光学元件,其将所述第1光学元件反射的所述激光朝向所述第1光学元件进行反射;以及测量部,其对在所述第2部件上生成的光的位置进行测量。由此,能够容易地提高定位的测量精度,而不必扩大激光系统内的空间或者不必使用高灵敏度的光传感器。

基本信息
专利标题 :
定位测量装置、定位调节装置以及激光系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021080449.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-12
授权号 :
CN212341675U
授权日 :
2021-01-12
发明人 :
荒川正树宫本浩孝
申请人 :
极光先进雷射株式会社
申请人地址 :
日本栃木县
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
田勇
优先权 :
CN202021080449.0
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2021-01-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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