一种红外探测器检测用高温型黑体辐射源

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摘要

本实用新型涉及红外光电学技术领域，具体涉及一种红外探测器检测用高温型黑体辐射源，一种红外探测器检测用高温型黑体辐射源，包括外壳体、内壳体以及控制器，所述控制器设置在所述外壳体和内壳体之间，所述外壳体和内壳体的底面固定连接，所述外壳体和内壳体的底面同轴地开设有辐射输出孔，所述内壳体的内部设置有辐射源，所述辐射源设置在所述辐射输出孔的内侧，所述辐射源的底面与内壳体之间设置有第一隔热层，所述内壳体在所述辐射源的外部填充有保温填料，以保证该红外探测器检测用高温型黑体辐射源的辐射面尽量接近外壳体的表面，从而确保红外探测器测试结果的可靠性，同时，有效简化测试过程，提高检测效率。

基本信息

专利标题：

一种红外探测器检测用高温型黑体辐射源

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021123254.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-17

授权号：

CN212110358U

授权日：

2020-12-08

发明人：

黄奇

申请人：

武汉凯尔文光电技术有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市江汉区新华路186号福星城市花园3号楼1单元7层1号

代理机构：

重庆百润洪知识产权代理有限公司

代理人：

刘泽正

优先权：

CN202021123254.X

主分类号：

G01J5/52

IPC分类号：

G01J5/52 G01J5/02