一种超声波测厚仪用探头延伸结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种超声波测厚仪用探头延伸结构，涉及超声波测厚仪技术领域。本实用新型包括壳体，壳体两端均固定有盖板，盖板上固定有贯穿壳体的探头引导管，探头引导管位于壳体外部的一端转动连接有探头夹持管，探头夹持管外表面上固定有伸缩杆，伸缩杆顶端固定有探头固定套，探头夹持管靠近盖板的一端外表面上固定有从动齿轮，从动齿轮上传动连接有驱动机构。本实用新型能够将超声波测厚仪的探头穿过探头引导管固定在探头夹持管或探头固定套上，延伸探头探测距离，带动探头移动到人手够不到或不能伸入的检测位置，且能够带动探头进准定位到要检测的位置上，避免手持探头抖动，提高检测结构的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种超声波测厚仪用探头延伸结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021127026.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN212721339U
授权日 ：
2021-03-16
发明人 ：
吴文凤
申请人 ：
吴文凤
申请人地址 ：
安徽省合肥市包河区大连路45号2栋907室
代理机构 ：
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 ：
龙凯
优先权 ：
CN202021127026.X
主分类号 ：
G01B17/02
IPC分类号 ：
G01B17/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B17/00
以采用次声波、声波、超声波振动为特征的计量设备
G01B17/02
用于计量厚度
法律状态
2021-03-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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