一种低温红外探测系统
授权
摘要

本实用新型涉及探测技术领域,公开了一种低温红外探测系统,包括红外探测器、光学子系统和杜瓦腔体,杜瓦腔体连接于冷源,还包括:调焦装置,红外探测器和光学子系统同时安装于杜瓦腔体的内部,且光学子系统与冷源可移动连接,调焦装置包括旋转臂,旋转臂的第一端与光学子系统相连,旋转臂的第二端穿出杜瓦腔体且与杜瓦腔体可移动连接。本实用新型提供的一种低温红外探测系统,通过降低光学子系统温度,减少光学子系统背景噪声的方式,提高整个系统的灵敏度,从而提高探测系统的信噪比,从而实现对微弱目标的红外探测;另外,通过设置调焦装置对低温光学子系统进行调节,使得低温下能够调焦可以保证低温下的像质。

基本信息
专利标题 :
一种低温红外探测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021127198.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-17
授权号 :
CN212693083U
授权日 :
2021-03-12
发明人 :
王兆利陈厚磊梁惊涛赵密广
申请人 :
中国科学院理化技术研究所
申请人地址 :
北京市海淀区中关村东路29号
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
张琪
优先权 :
CN202021127198.7
主分类号 :
G01J5/06
IPC分类号 :
G01J5/06  G01J5/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/02
零部件
G01J5/06
消除干扰辐射影响的装置
法律状态
2021-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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