超声波检测双面测区快速对点器
授权
摘要
本实用新型公开了超声波检测双面测区快速对点器,包括快速对点器,所述快速对点器为一侧开放的矩形框结构,所述快速对点器包括第一竖杆、第二竖杆和横杆,所述第一竖杆一端与所述横杆一端固定连接,所述横杆包括滑轨和限位座,所述滑轨设置在所述横杆内,所述限位座设置在所述滑轨的一端,所述第二竖杆一端与所述滑轨滑动连接,所述第一竖杆和所述第二竖杆上设有若干个螺孔,所述螺孔上旋接有螺杆,所述螺杆上端设有旋钮,所述螺杆下端设有固定座,所述螺杆、旋钮和固定座共同组成旋转固定装置。通过旋转固定装置可以快速的将对点器固定在被检测的物体上,在通过刻度可以快速的标志两个相对面上的相对点,使用简单方便,实用性强。
基本信息
专利标题 :
超声波检测双面测区快速对点器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021158348.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-20
授权号 :
CN212568622U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
蔡志成
申请人 :
福建华诚工程研究院有限公司
申请人地址 :
福建省泉州市丰泽区城东街道浔美工业区泉州丰泽华山塑料机械有限公司工业楼第1、2楼
代理机构 :
泉州劲翔专利事务所(普通合伙)
代理人 :
林枫
优先权 :
CN202021158348.0
主分类号 :
G01N29/22
IPC分类号 :
G01N29/22
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料;靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/22
零部件
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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