一种手持式金属光谱分析仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种手持式金属光谱分析仪，可以通过探测头前端的对准机构，辅助探测头的X射线发射窗对准被测金属的目标位置，使得测定结果更精准；此外，由于数据处理器与检测器主体可拆卸连接，在检测完成后，可以方便、直接地将数据处理器取下并送至实验室、办公室、数据室等地点。其技术方案要点是：包括检测器主体、探测头、握把和数据处理器，所述检测器主体内设有X射线管、分光系统、滤波器和检测系统，所述探测头上设有用于X光线射出的发射窗，所述探测头上设有用于辅助发射窗对准目标物的对准机构；所述数据处理器与检测器主体可拆卸连接，数据处理器与检测器主体之间设有数据传输机构。
基本信息
专利标题 ：
一种手持式金属光谱分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021158667.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-19
授权号 ：
CN212622330U
授权日 ：
2021-02-26
发明人 ：
张绵涛黄俊林孟国军
申请人 ：
浙江友谊新材料有限公司
申请人地址 ：
浙江省绍兴市诸暨市陶朱街道千禧路28号
代理机构 ：
杭州亿创果专利代理有限公司
代理人 ：
陈晓宇
优先权 ：
CN202021158667.1
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-02-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
