一种全光程校准器装置
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摘要

本实用新型公开了一种全光程校准器装置,其设置包括一框架本体,在所述框架本体中设置有至少一入光口及一出光口的光反射通道;其中,所述光反射通道设置包括一设置在入光口内的第一斜面反射器,以及,一设置在出光口内的第二斜面反射器;在所述第一斜面反射器与所述第二斜面反射器之间设置有一沿所述框架本体纵向的通孔;在所述通孔内还设置有一具有U型阻挡部的阻挡件,用于调节通光量;所述第一斜面反射器及所述第二斜面反射器具有独立可调整并固定其反射角度的结构。本实用新型全光程校准器装置由于采用了在校准框架内的斜面发射件,实现了不受系统弹性变化的影响,其校准状态能够稳固长期保持。

基本信息
专利标题 :
一种全光程校准器装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021159322.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-19
授权号 :
CN212459306U
授权日 :
2021-02-02
发明人 :
李强
申请人 :
李强
申请人地址 :
广东省深圳市福田区景苑大厦B栋902
代理机构 :
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
徐凯凯
优先权 :
CN202021159322.8
主分类号 :
G01N15/06
IPC分类号 :
G01N15/06  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2021-02-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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