用于组织样品透明化光学成像观察的上样支架以及光学观察仪器
授权
摘要

本申请公开了用于组织样品透明化光学成像观察的光学观察仪器及其上样支架。所述上样支架包括:细长的主体,穿过所述主体形成有两个彼此平行的沿直线延伸的第一通道和第二通道;能够移动地穿过所述第一通道设置的第一导杆和能够移动地穿过所述第二通道设置的第二导杆,所述第一导杆和所述第二导杆从所述主体的纵向两端伸出;在所述第一导杆的从所述主体的一端伸出的自由端上固定的第一支承盘;在所述第二导杆的从所述主体的上述同一端伸出的自由端上固定的第二支承盘,在所述第一通道的内壁与所述第一导杆的外壁之间形成有摩擦配合面,并且在所述第二通道的内壁与所述第二导杆的外壁之间形成有摩擦配合面。

基本信息
专利标题 :
用于组织样品透明化光学成像观察的上样支架以及光学观察仪器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021165694.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-22
授权号 :
CN213658396U
授权日 :
2021-07-09
发明人 :
李紫煜唐吉
申请人 :
蒂姆温特(北京)科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区西三环北路87号14层1-1401-224
代理机构 :
北京永新同创知识产权代理有限公司
代理人 :
刘兴鹏
优先权 :
CN202021165694.1
主分类号 :
G01N1/36
IPC分类号 :
G01N1/36  G01N21/84  G01N21/01  G02B21/34  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
G01N1/36
样品的放入或类似的安装
法律状态
2021-07-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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