一种高精度的非接触式回转面轮廓测量装置

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摘要

本实用新型公开了一种高精度的非接触式回转面轮廓测量装置，包括：固定架，固定架包括安装法兰、悬挂板、悬挂杆和托趁稳定板，悬挂板设置在安装法兰上，悬挂杆和所述托趁稳定板均设置在所述悬挂板上；控制件，所述控制件包括驱动器、控制防护壳、主控制器、无线传输模块、电池和天线；移动扫描件，其设置在所述固定架上，移动扫描件包括动力传动件和扫描件，动力传动件设置在所述固定架上，所述扫描件设置在所述动力传动件上；防护壳，其设置在固定架和所述控制件上，所述防护壳包括上侧防护壳和下侧防护壳，上侧防护壳和所述下侧防护壳均设置在所述固定架上。本实用新型结构设计合理、测量速度快和测量精度高。

基本信息

专利标题：

一种高精度的非接触式回转面轮廓测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021214009.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-28

授权号：

CN212109915U

授权日：

2020-12-08

发明人：

李锦董泽光于新海

申请人：

华东理工大学

申请人地址：

上海市徐汇区梅陇路130号

代理机构：

南京中高专利代理有限公司

代理人：

徐福敏

优先权：

CN202021214009.X

主分类号：

G01B11/24

IPC分类号：

G01B11/24