本实用新型涉及探针检测设备领域，尤其涉及一种基于提高检测精度的探针装置，包括支撑机构、PCB板模块和探针单元；支撑机构包括底座，底座的一端连接有探针座；探针单元包括若干布设于探针座上的探针；PCB板模块设置于底座上，且PCB板模块上设置有用于连接测试主机的信号线和若干与探针一一对应连接的铜线。本技术方案通过在探针卡的PCB板上引出若干铜线，并在每根铜线上连接探针，实现将电流分散于若干根探针上，基于所有探针相互配合对晶圆进行测试，提高了对晶圆各项参数的检测精度，进一步提高了检测结果的可靠性。