一种基于OCT成像技术的光学检测仪用承载装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种基于OCT成像技术的光学检测仪用承载装置,包括承载基板,所述承载基板底面的边缘固定安装有支撑框架,所述支撑框架的底部固定安装有支撑框座,所述承载基板的底面固定安装有限位纵管。通过减速电机驱动螺纹轴转动,即可带动内螺纹管在螺纹轴的表面上升或下降移动,使内螺纹管通过支撑弯轴带动承载基板上升或下降,使支撑框架在滑动框架的表面向上滑移,使限位纵管在限位纵柱的表面向上滑移,使搭接垫座通过阻尼垫搭接平面上,从而使得承载基板得以稳定地进行上升或下降移动,从而达到了便于对承载结构的高度进行升降调节的效果,实现了便于根据成像检测需求进行调整承载高度的目标,成像检测起来更加灵活、更加方便。

基本信息
专利标题 :
一种基于OCT成像技术的光学检测仪用承载装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021226837.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-29
授权号 :
CN212780509U
授权日 :
2021-03-23
发明人 :
吴晓顺刘志鹏
申请人 :
无锡欧因特光学科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区净慧东道78号中电海康无锡物联网产业基地会议中心204-13
代理机构 :
无锡知更鸟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张涛
优先权 :
CN202021226837.5
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  G01N21/88  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2021-03-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN212780509U.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332