一种均匀光源的辐射特性测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种均匀光源的辐射特性测试装置，该设备兼备面均匀性测试功能以及角均匀性测试功能，具有结构简单，测量速度快、通用性强的优点，该测试装置包括支架、升降机构、轻质横杆，多个光电探测器组件以及信号处理及测量控制单元；升降机构与支架连接，轻质横杆安装在升降机构上，多个光电探测器组件并排安装在轻质横杆上，信号处理及测量控制单元安装在支架上。采用横向均布光电探测器纵向推扫的方法实现均匀光源的面均匀性的测试，采用角度均布光电探测器的方法实现了均匀光源的角均匀性测试。
基本信息
专利标题 ：
一种均匀光源的辐射特性测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021254161.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-30
授权号 ：
CN212748258U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
昌明周艳刘锴李晶薛勋宋琦曹昆万伟赵怀学
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
唐沛
优先权 ：
CN202021254161.0
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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