一种便于原位EBSD测试的微型力学测试台
授权
摘要

本实用新型涉及材料力学性能测试和显微组织结构原位表征技术领域,特别是一种便于原位EBSD测试的微型力学测试台,包括电机执行机构、加载机构、位置传感机构、力传感机构、基座和外壳,电机输出轴的旋转运动经传递转化为加载机构的直线运动,加载机构对被测试样品施加载荷,位置传感机构实时检测加载机构的相对位置变化给出样品形变量,力传感机构实时探测并给出样品承受的载荷。本实用新型样品夹具设置在原位力学测试台侧面,允许的EBSD探测距离小,空间探测角大,力传感机构和位置传感机构的活动范围在电机执行机构的尺寸范围内,结构紧凑小巧,允许工作距离小,双向对称加载、轴心加载、传动自锁,利于原位显微组织结构研究。

基本信息
专利标题 :
一种便于原位EBSD测试的微型力学测试台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021256148.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-01
授权号 :
CN212845120U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
党理李吉学
申请人 :
杭州源位科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市萧山建设四路4083幢新街科创园C座
代理机构 :
北京金智普华知识产权代理有限公司
代理人 :
巴晓艳
优先权 :
CN202021256148.9
主分类号 :
G01N23/20033
IPC分类号 :
G01N23/20033  G01N23/203  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
G01N23/20033
具有温度控制或加热装置
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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