扫描电镜可调温原位力学测试样品台
授权
摘要

本实用新型属于样品检测领域,具体涉及一种扫描电镜可调温原位力学测试样品台。包括支架、加热单元、动力单元以及样品放置单元;所述的压缩单元包括设置在所述的支架上的固定端以及与所述的固定端连接的压缩样品拖;所述的拉伸单元包括分别设置在所述的固定端以及所述的移动杆上的用以夹持拉伸样品两端的夹具;所述的移动端的端部与所述的压缩样品拖的位置对应用以对压缩样品拖的压缩样品进行挤压。本申请的扫描电镜可调温原位力学测试样品台通过转换隔热密封腔的热媒的种类即可对隔热密封腔内的温度进行调整、通过动力源进出,能够一次实现一个样品台中在不同温度下样品原位拉伸或压缩试验微观结构形貌的观察及成分分析。

基本信息
专利标题 :
扫描电镜可调温原位力学测试样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922319530.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-20
授权号 :
CN211577021U
授权日 :
2020-09-25
发明人 :
孙道宝胡晓宇高旭王晶晶
申请人 :
天津膜天膜科技股份有限公司
申请人地址 :
天津市滨海新区开发区第十一大街60号
代理机构 :
天津市三利专利商标代理有限公司
代理人 :
杨欢
优先权 :
CN201922319530.3
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251  G01N3/10  G01N3/12  G01N3/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2020-09-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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