一种合模式电路板ICT检测台
授权
摘要
本实用新型的一种合模式电路板ICT检测台,包括底部连接座、设置在底部连接座上部的底部连接台,底部连接台的上面中心位置设有连接底部探针组件的底部探针安装区,底部连接台的上部设有下绝缘承载板,下绝缘承载板上部的中心位置设有与底部探针组件的探针位置以及套孔套接块,下绝缘承载板的上部还连接上套合检测组件结构,所述的上套合检测组件结构包括上透明板、下透明板、设置在上透明板、下透明板之间的尼龙支撑组件、下透明板下部设有上检测组件台结构。该电路板ICT检测台结构简单、使用方便,操作可与机械设备配套使用,在实施的过程中对准性高,检测的数据精准,保证了测试的质量。测试探针结构使用合理,提高使用寿命,适合社会广泛使用。
基本信息
专利标题 :
一种合模式电路板ICT检测台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021263400.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-02
授权号 :
CN212808509U
授权日 :
2021-03-26
发明人 :
李国军高准王海涛冯坤武思广
申请人 :
芜湖欣宏电子科技有限公司
申请人地址 :
安徽省芜湖市经济技术开发区衡山路35号二号厂房E103
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021263400.9
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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