一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具
授权
摘要
本实用新型涉及电子显微镜技术领域,具体地说,涉及一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具,包括底座,底座的顶部设置有载台,底座的一侧竖直安装有固定标尺,固定标尺为顶部开口且内部中空结构,固定标尺的顶部插接有延长段,延长段和固定标尺的外壁均设置有刻度线,底座的中心处开设有插孔,载台包括固定座,固定座为圆柱体结构且底端与插孔插接配合,固定座的内部为中空结构且顶部开口,固定座的顶部设置有螺纹杆。该用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具能够带动平台上下移动,能够对平台的高度进行上下微调,保证上下移动的精准,能够保证平台升降稳定不会晃动,能够实现对样品高度的精确识别,便于控制显微镜与样品间的距离。
基本信息
专利标题 :
一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021277234.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-03
授权号 :
CN213041763U
授权日 :
2021-04-23
发明人 :
张大梁韦旎妮娄宏刚
申请人 :
重庆市展未微科技服务有限公司
申请人地址 :
重庆市沙坪坝区西永大道28号附2号SOHO楼A栋505室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021277234.8
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2021-04-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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