一种用于扫描电子显微镜的粉末样品多样品试样载台
授权
摘要
本实用新型涉及电子显微镜技术领域，具体地说，涉及一种用于扫描电子显微镜的粉末样品多样品试样载台，包括基台，基台的上部设置有区域分隔盖板，区域分隔盖板的中部开设有若干样品放置孔，区域分隔盖板的两侧表面开设有若干通孔，基台的顶部两侧表面开设有定位孔，定位孔内设置有定位机构，基台的顶部表面靠近通孔处开设有螺纹孔，区域分隔盖板上设置有螺栓。该用于扫描电子显微镜的粉末样品多样品试样载台能够一次性放置多个样品，可以节约实验时间，能够将多个样品之间进行分隔，从而有效防止交叉污染，并且能保持多个粉末样品放置稳定，在使用过后可将区域分隔盖板拆下，便于进行清洗操作。
基本信息
专利标题 ：
一种用于扫描电子显微镜的粉末样品多样品试样载台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021277258.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-03
授权号 ：
CN213041764U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
张大梁韦旎妮娄宏刚
申请人 ：
重庆市展未微科技服务有限公司
申请人地址 ：
重庆市沙坪坝区西永大道28号附2号SOHO楼A栋505室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021277258.3
主分类号 ：
G01N23/2251
IPC分类号 ：
G01N23/2251 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束，例如扫描电子显微镜
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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