一种并联通路检测系统
授权
摘要
本实用新型提出一种并联通路检测系统。一种并联通路检测系统，激励信号发射部信号传输连接于第一光耦隔离部；反馈信号接收部信号传输连接于第二光耦隔离部；待检测并联通路两端分别信号传输连接于第一光耦隔离部和第二光耦隔离部；所述激励信号发射部和反馈信号接收部均为Arduino微控制板。操作方便、成本低廉、对并联通路测试效率高。
基本信息
专利标题 ：
一种并联通路检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021295135.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-06
授权号 ：
CN212723276U
授权日 ：
2021-03-16
发明人 ：
吴贵阳
申请人 ：
矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021295135.2
主分类号 ：
G01R31/54
IPC分类号 ：
G01R31/54
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/54
测试连续性
法律状态
2021-03-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
