基于分形微带天线的物质组分微小变化的检测装置
授权
摘要
本实用新型属于微波电路领域，具体涉及一种基于分形微带天线的物质组分微小变化的检测装置。所述分形微带天线包括:介质基板(4)；金属层(2)，所述金属层(2)的反面贴设于所述介质基板(4)的正面；辐射贴片(1)，是分形矩形镂空贴片，贴设于所述金属层(2)的正面；微带线(3)，贴设于所述介质基板(4)的反面。利用该分形微带天线制造检测装置制造成本低，测量精度高，可以检测液体和固体材料的微小介电变化。
基本信息
专利标题 ：
基于分形微带天线的物质组分微小变化的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021297239.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-06
授权号 ：
CN213184568U
授权日 ：
2021-05-11
发明人 ：
孙浩然田贵云
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市郫都区西源大道2006号电子科技大学
代理机构 ：
北京元本知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王红霞
优先权 ：
CN202021297239.7
主分类号 ：
H01Q1/22
IPC分类号 ：
H01Q1/22 H01Q1/38 H01Q1/50 G01N22/00
法律状态
2021-05-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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