测试座支架
授权
摘要
本实用新型提供一种测试座支架，包括固定座，沿前后方向设置，固定座的中部沿左右方向设置有测试座安装孔，固定座的前端的顶面竖向设置有前固定孔，固定座的后端的顶面竖向设置有后固定孔，固定座的前端的顶面和固定座的后端的顶面处于同一水平面。较佳地，测试座安装孔的横截面为长条形，长条形沿竖向设置。还包括前卡部，设置在固定座的前端的右侧面上。还包括后卡部，设置在固定座的后端的右侧面上。还包括前定位销，设置在固定座的前端的顶面上。还包括后定位销，设置在固定座的后端的顶面上。本实用新型的测试座支架能够保证测试探针良好接触产品引脚，避免由于接触不良导致产品误测，提高测试良率，提高一次直通良率，提高生产效率。
基本信息
专利标题 ：
测试座支架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021307010.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-02
授权号 ：
CN212905258U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
邓勇泉刘通何欢夏淞
申请人 ：
上海泰睿思微电子有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区芦潮港路1758号1幢18641室
代理机构 ：
上海唯源专利代理有限公司
代理人 ：
汪家瀚
优先权 ：
CN202021307010.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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