本实用新型提供一种半导体测试支架。所述半导体测试支架包括支架；四个定连块，四个所述定连块分别固定安装在支架的两侧，四个所述定连块呈矩形列阵分布；两个手调转杆，两个所述手调转杆分别转动安装在四个所述定连块之间；四个接应块，四个所述接应块分别固定安装在两个所述手调转杆上；压按块，所述压按块固定安装在接应块上；防护块，所述防护块固定安装在压按块的一侧上，所述防护块的一侧与支架的一侧相接触；两个装接块，两个所述装接块分别固定安装在对应的所述手调转杆上。本实用新型提供的半导体测试支架具有使用方便、便于调节、提高半导体与支架之间连接的稳定牢固性的优点。