一种半导体测试设备探针台用调节支架
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体测试设备探针台用调节支架,涉及探针台调节装置技术领域,包括底座,底座的顶部开设有滑槽,滑槽的内壁滑动连接有滑块,滑槽的内壁一侧固定连接有轴承,底座的一侧开设有螺孔,螺孔的一侧设置有第一转柄,第一转柄的一侧转动连接有螺杆,螺杆的一端贯穿螺孔和滑块延伸至轴承的一侧,且与轴承的一侧转动连接,滑块的顶部固定连接有支撑台,支撑台的顶部开设有圆孔,圆孔的一侧设置有转盘,转盘的底部转动连接有转轴。本实用新型通过螺杆和滑块的配合使用,实现了对探测针的位置进行移动的目的,操作简单,提高了移动的便捷性,且通过手动调节,比较容易控制,提高了检测的准确性。
基本信息
专利标题 :
一种半导体测试设备探针台用调节支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922467471.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-31
授权号 :
CN211453717U
授权日 :
2020-09-08
发明人 :
朱松
申请人 :
苏州三像智能科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区唯新路69号一能科技园5号楼326室
代理机构 :
苏州言思嘉信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘巍
优先权 :
CN201922467471.4
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R1/067 G01R1/14 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-09-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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