本实用新型公开了一种半导体测试支架，包括第一底板、第二底板和支撑板，所述支撑板位于第一底板和第二底板一侧，所述支撑板内壁一侧开设有滑动槽，所述滑动槽内部滑动连接有T形滑动块，所述T形滑动块远离支撑板的一端固定连接有测试板，所述第二底板上方固定连接有固定箱，且测试板通过液压杆与固定箱相连，所述测试板内部开设有测试区，所述测试区内部开设有通孔，所述测试板下方固定连接有固定吸盘，所述固定吸盘下方固定连接有伸缩管，本实用新型涉及半导体测试技术领域。该半导体测试支架，极大的方便了半导体的固定工作，减轻测试人员的工作负担，提升测试效率，同时可以根据需要调节测试的高度，简单方便，使用便捷。