一种机械振打器双向密封性能测试系统

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摘要

本实用新型涉及一种机械振打器双向密封性能测试系统，包括导筒、活塞杆和撞击杆；还包括测距元件一、测距元件二、反光元件一、反光元件二和处理器，反光元件一和反光元件二沿振打器的轴向间隔固定安装在导筒内的尾部；测距元件一和测距元件二沿活塞杆的轴向间隔固定安装在活塞杆的伸缩端，其均位于反光元件一和反光元件二之间，测距元件二位于测距元件一远离活塞杆伸缩端部的一侧；测距元件一和测距元件二分别与处理器通讯连接，并分别用于测量测距元件一与反光元件一之间的间距以及测距元件二与反光元件二之间的间距。有益效果是可实现振打器密封性能的快速测试，测试方法简便，也可以提高实验效率，系统整体机构设计合理，安全可靠。

基本信息

专利标题：

一种机械振打器双向密封性能测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021313141.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-07

授权号：

CN212228304U

授权日：

2020-12-25

发明人：

喻九阳王景勋林纬汪威徐建民郑小涛王成刚易国英

申请人：

武汉工程大学;武汉金惠科技有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号

代理机构：

北京轻创知识产权代理有限公司

代理人：

张力波

优先权：

CN202021313141.6

主分类号：

G01M3/02

IPC分类号：

G01M3/02 G01M3/38 G01B11/14