用于TCR型SVC的低压测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及用于TCR型SVC的低压测试装置，包括微型断路器QF1、测试单元、晶闸管单元以及TCR控制单元，微型断路器QF1的一端连接有三相交流电源；微型断路器QF1与测试单元连接，测试单元分别与晶闸管单元及TCR控制单元连接，晶闸管单元与TCR控制单元连接；测试单元接收经过微型断路器QF1的三相交流电源后，进行电压采样，同步至TCR控制单元；TCR控制单元，用于控制晶闸管单元的开通角度，并获取晶闸管单元的状态。本实用新型实现在低压环境下真实地且便于测试每一对晶闸管出发的波形，且可验证每一对晶闸管触发波形是否正确。
基本信息
专利标题 ：
用于TCR型SVC的低压测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021378501.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-14
授权号 ：
CN212301758U
授权日 ：
2021-01-05
发明人 ：
刘敏涛
申请人 ：
深圳天顺智慧能源科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
代理机构 ：
深圳市精英专利事务所
代理人 ：
冯筠
优先权 ：
CN202021378501.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-01-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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