低压变频器老化测试装置

授权

摘要

本实用新型公开一种低压变频器老化测试装置，该装置由n台被测变频器、n组LC滤波器、电感、回馈变频器及环网接触器KM1组成。将第一台被测变频器三相输入端连接电网，三相输出端接LC滤波器，再串联接到下一台被测变频器，如此循环，实现级联老化，将最后一台串联被测变频器输出端接LC滤波器，再串联电感后接到回馈变频器输入端，其输出端串接LC滤波器，通过环网接触器KM1连接到电网。本实用新型整个测试系统中无电机，提高了变频器老化效率及老化装置可靠性，降低变频器老化能耗及负载电机维护成本。

基本信息

专利标题：

低压变频器老化测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021969466.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-10

授权号：

CN212459910U

授权日：

2021-02-02

发明人：

张树林陈万燕钱永邓德宽

申请人：

成都希望电子研究所有限公司

申请人地址：

四川省成都市双流西南航空港开发区机场路181号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202021969466.X

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00