样品角度调整机构
授权
摘要

本实用新型涉及一种样品角度调整机构,包括底座;底座的顶部的相对两侧分别固定有第一支撑座和第二支撑座;第一支撑座上转动连接有第一夹持装置;第二支撑座上转动连接有第二夹持装置;第一夹持装置和第二夹持装置正对设置以夹持板状待测样品;第一支撑座上还固定有驱动装置;驱动装置与第一夹持装置固定连接,用于驱动第一夹持装置转动,以带动板状待测样品转动,使板状待测样品与底座的顶部所在平面成预设夹角。取代了人力对待测样品角度的调节,使得角度的调节更为方便和高效,有效地降低了人工成本。同时,使得待测样品的角度调节更为精确,可实现任意角度的切换,以便于待测样品实现多角度,全方位的CT扫描检测。并且,节省了操作时间。

基本信息
专利标题 :
样品角度调整机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021380770.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-14
授权号 :
CN212433017U
授权日 :
2021-01-29
发明人 :
赵亮余将
申请人 :
奥影检测科技(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市闵行区恒南路1328号派拉蒙中心1-206室
代理机构 :
北京酷爱智慧知识产权代理有限公司
代理人 :
王莹
优先权 :
CN202021380770.0
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2021-01-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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