用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置。包括快速调整机构和标准样板，快速调整机构包括X向导轨组件、Y向导轨组件、周向转台组件，Y向导轨组件设在X向导轨组件上部并由X向导轨组件带动沿X向移动，周向转台组件设在Y向导轨组件上部并由Y向导轨组件带动沿Y向移动，周向转台组件可周向转动且其上设有玻璃工作台，X向底板、Y向底板、周向转台底板上均设有同轴的圆孔；标准样板上设置有按照标准V形口/标准U形口的下公差和上公差所界定的范围所形成的V形/U形区域，标准样板的板面上设有相垂直的第一直线和第二直线，第一直线为V形/U形区域的对称轴，第二直线位于V形/U形区域的开口端，标准样板设在玻璃工作台上。
基本信息
专利标题 ：
用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021402235.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-16
授权号 ：
CN212179812U
授权日 ：
2020-12-18
发明人 ：
孙磊赵东升商华艳高冉何庆雨管倩倩
申请人 ：
山东省计量科学研究院
申请人地址 ：
山东省济南市历下区千佛山东路28号
代理机构 ：
济南舜源专利事务所有限公司
代理人 ：
苗峻
优先权 ：
CN202021402235.0
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-12-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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