一种IGBT模块扫频测试台
授权
摘要
本实用新型公开了一种IGBT模块扫频测试台，包括测试台体、支撑台、置物台、扫频测试块和定位机构，所述测试台体顶端的一侧固定有支撑台，且测试台体底端的拐角位置处皆固定有支撑柱，所述支撑台的顶端设置有置物台，且置物台两侧的外壁上皆设置有定位机构，所述置物台的上方设置有扫频测试块，且扫频测试块的底端皆固定有等间距的测试柱，所述置物台一侧的支撑台顶端固定有固定架，且固定架的顶部固定有气缸，气缸的输出端与扫频测试块的顶端固定连接，所述固定架一侧的外壁上固定有控制面板。本实用新型不仅减少了测试时IGBT模块的偏移，提高了IGBT模块的测试效率，而且提高了测试的精准性。
基本信息
专利标题 ：
一种IGBT模块扫频测试台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021409941.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-16
授权号 ：
CN212905260U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
杨种南
申请人 ：
传承电子科技（江苏）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山开发区朝阳东路99号2号房4楼
代理机构 ：
苏州言思嘉信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
叶晓龙
优先权 ：
CN202021409941.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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