一种可自动取样的激光粒度仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种可自动取样的激光粒度仪,包括外壳、取样装置、破碎腔、激光室、信号收集装置、测量室和数控结构,所述外壳的上方固定有取样装置和破碎腔,且破碎腔位于取样装置的一侧,所述外壳的内部安装有激光室和测量室,且测量室位于激光室的一侧,所述外壳的内部安装有信号收集装置,且信号收集装置位于测量室的一侧,所述激光室的内部安装有准直器和遮光器,且遮光器位于准直器的一侧,所述外壳的正面固定有数控结构。本实用新型通过安装有遮光器,可对装置内部的光源亮度进行调节,保证样品在进行粒度检测过程中遮光度在目标范围内,避免过高的遮光度降低样品在测量室中的分散效率,进而保证装置最终检测结果的准确性。
基本信息
专利标题 :
一种可自动取样的激光粒度仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021411159.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-17
授权号 :
CN212540052U
授权日 :
2021-02-12
发明人 :
韩广乾杨涛柳钟丽
申请人 :
上海胤煌科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区万祥镇宏祥北路83弄1-42号20幢118室
代理机构 :
上海微策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张静
优先权 :
CN202021411159.X
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2021-02-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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