双光源激光测距仪
授权
摘要
本实用新型涉及一种双光源激光测距仪，包括光学承载基座、接收透镜、接收光电传感器、激光发射装置和光学测量接收装置；所述激光发射装置包括至少一个第一激光模组和至少一个第二激光模组；其中，所述第一激光模组用于发射可见的较短波长的激光，该激光用于指示测量目标；所述第二激光模组用于发射较长波长的激光，该激光用于测量距离；所述光学测量接收装置包括至少一个合束镜(负性滤光片)和至少一个测量激光滤光片；其中，所述合束镜(负性滤光片)用于反射所述第一激光模组发射的激光，其反射波长与所述第一激光模组发射的激光的波长一致。
基本信息
专利标题 ：
双光源激光测距仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021412602.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-16
授权号 ：
CN213210471U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
王振兴
申请人 ：
深圳市度彼电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明办事处田寮社区光明高新园西区七号侨德科技园厂房B栋六楼
代理机构 ：
深圳市凯达知识产权事务所
代理人 ：
刘大弯
优先权 ：
CN202021412602.5
主分类号 ：
G01S17/08
IPC分类号 ：
G01S17/08 G01S7/481
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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