一种测站参数的测量系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种测站参数的测量系统，包括：设置于测站上且与测站位置相对固定的测量装置和设置于固定位置的发射装置，所述测量装置内部设置有相机，以及与所述相机连接的处理器；所述相机用于拍摄所述发射装置发出的信号，所述处理器根据所述相机拍摄到的信号来计算测站的位置偏移；本实用新型中的测量装置体积小且便于安装，能够实时检测测站位置的位姿变化，避免人工检核的滞后性，实用性较强。
基本信息
专利标题 ：
一种测站参数的测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021415939.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-17
授权号 ：
CN212747769U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
吴小燕朱涛覃旭汪慧琴刘超
申请人 ：
上海米度测量技术有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区双联路158号2层M区216室
代理机构 ：
上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
宋缨
优先权 ：
CN202021415939.1
主分类号 ：
G01C5/00
IPC分类号 ：
G01C5/00 G01C15/00 G01B21/02 G01C9/24 E21D9/06
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C5/00
高程测量；横向视距测量；分开点间的水准测量；水准仪
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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