测量直流参数的电路、方法及系统
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种测量直流参数的电路、方法及系统，该电路包括主控单元、通道控制单元以及模数/数模转换单元；通道控制单元包括PMU通道，PMU通道的数量为至少一个；PMU通道包括PMU芯片电路以及输出放大电路，输出放大电路与PMU芯片电路连接，输出放大电路用于放大PMU芯片电路的输出电压，以增加PMU通道的量程；主控单元与模数/数模转换单元连接，主控单元与通道控制单元连接，模数/数模转换单元与通道控制单元连接，通道控制单元与待测IC芯片连接。本申请通过在通道控制单元中设置输出放大电路以及至少一个PMU通道，来增加PMU通道的量程，解决测量量程较少的问题，提高IC测试的便利性。
基本信息
专利标题 ：
测量直流参数的电路、方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325331A
申请号 ：
CN202111653042.1
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘磊胡志臣杨立杰武福存储艳莉刘文旭黄月芳王红宇
申请人 ：
北京航天测控技术有限公司
申请人地址 ：
北京市石景山区实兴东街3号1-8号楼
代理机构 ：
北京华夏泰和知识产权代理有限公司
代理人 ：
韩月玲
优先权 ：
CN202111653042.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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