一种集成电路直流参数测试系统
授权
摘要
本申请公开了一种集成电路直流参数测试系统，该系统由PCIe转接模块、信号源产生模块、继电器驱动模块和测试模块构成，其中，PCIe转接模块包括PCIe插槽，且通过PCIe插槽分别与主控单元和继电器驱动模块连接，实现与信号源产生模块和继电器驱动模块的PCIe通信。具体地，继电器驱动模块通过PCIe接口芯片与PCIe转接模块连接，实现与PCIe转接模块的PCIe通信。PCIe通信方式相较于USB等通信方式具有传输速度快的特点，可有效解决系统对于复杂控制的大量数据传输速度不高的问题。进一步的，本申请实施例提供的集成电路直流参数测试系统采用信号单元代替PMU分立器件，具有测试精度和可靠性高的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路直流参数测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021905991.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-03
授权号 ：
CN212749161U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
赵静一连高城叶剑文
申请人 ：
杭州友旺电子有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区黄姑山路4号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
骆宗力
优先权 ：
CN202021905991.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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