集成电路测试系统直流信号校准板、校准装置及校准方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种集成电路测试系统直流信号校准板、校准装置及校准方法,所述校准板上设有信号对接端和接地对接端,校准板内设有上下平行设置的信号导联层和接地导联层,信号对接端均与信号导联层连接设置,接地对接端均与接地导联层连接设置,信号导联层和接地导联层分别向外引出信号连接导线和接地连接导线。通过校准板将测试系统中所有通道的信号端与地端分别连接至同一导联层上,并使用导线引出与负载连接,从而通过单根导线实现与所有信号端连接、以及与所有地端连接,同时结合校准控制模块通过测试控制模块控制集成电路测试系统的信号通道依次单个导通,进而实现集成电路测试系统直流参数的高效自动校准,无需跟换信号通道连接。
基本信息
专利标题 :
集成电路测试系统直流信号校准板、校准装置及校准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325542A
申请号 :
CN202111393502.1
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-11-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
罗锦晖丁超顾翼王珩
申请人 :
中国船舶重工集团公司第七0九研究所
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
代理机构 :
武汉河山金堂专利事务所(普通合伙)
代理人 :
胡清堂
优先权 :
CN202111393502.1
主分类号 :
G01R35/02
IPC分类号 :
G01R35/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
G01R35/02
辅助装置的测试或校准,例如根据规定的变换比、相位角或额定瓦数对仪表变压器进行测试或校准
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/02
申请日 : 20211123
申请日 : 20211123
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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