校准机构及终端测试系统

授权

摘要

本发明提供了一种校准机构及终端测试系统，该校准机构包括治具、第一校准结构和耦合测试结构，第一校准结构设于终端的正面，第一校准结构包括距感校准结构、光感校准结构中的至少一个，耦合测试结构设于终端的背面，耦合测试结构包括近场通信测试卡、无线充电测试卡中的至少一个。本发明提供的校准机构及终端测试系统，第一校准结构和耦合测试结构分别设于终端的正面和背面，使得该校准机构在校准距感或者光感的同时可以进行近场通信测试或者无线充电的测试，保证同时有两项测试共同进行，提高测试的效率。

基本信息

专利标题：

校准机构及终端测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109561193A

申请号：

CN201811513719.X

公开（公告）日：

2019-04-02

申请日：

2018-12-11

授权号：

CN109561193B

授权日：

2022-05-10

发明人：

黄培坤袁城朱江华

申请人：

深圳市艾特讯科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区新安街道72区甲岸工业园C2栋3楼

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司

代理人：

张全文

优先权：

CN201811513719.X

主分类号：

H04M1/24

IPC分类号：

H04M1/24